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主營(yíng)產(chǎn)品： 光學(xué)設(shè)備、電子計(jì)測(cè)儀器、科學(xué)儀器、機(jī)械加工設(shè)備、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、物流保管用品、化學(xué)用品、FA自動(dòng)化
產(chǎn)品中心
DNL
ETA
　

產(chǎn)品資料

C測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：3504-50
簡(jiǎn)介：

HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口

C測(cè)試儀  的詳細(xì)介紹

HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口
HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口
HIOKI日置C測(cè)試儀3504-50，京都玉崎日本原裝進(jìn)口

CE CE
 

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等

● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件

基本參數(shù)

測(cè)量參數(shù) Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）
測(cè)量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測(cè)定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù)
測(cè)量頻率 120Hz, 1kHz
測(cè)量信號(hào)電平 恒壓模式: 100mV (3504-60)， 500 mV, 1 V
測(cè)量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
輸出電阻 5Ω（CV測(cè)量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí)）
顯示 發(fā)光二級(jí)管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定）
測(cè)量時(shí)間 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同
功能 BIN分類測(cè)量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, *大110VA
體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說(shuō)明書(shū)×1