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主營產(chǎn)品: 光學設(shè)備、電子計測儀器、科學儀器、機械加工設(shè)備、環(huán)境試驗設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、物流保管用品、化學用品、FA自動化
產(chǎn)品中心
DNL
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產(chǎn)品資料

薄膜測厚儀
產(chǎn)品型號: L-500
簡介:

內(nèi)置打印機的**型號薄膜測厚儀 塊/組統(tǒng)計計算器 新開發(fā)的探頭(另售)

薄膜測厚儀  的詳細介紹

產(chǎn)品概要

薄膜測厚儀 L-500
  • 內(nèi)置打印機的**型號薄膜測厚儀
  • 塊/組統(tǒng)計計算器
  • 新開發(fā)的探頭(另售)

主要規(guī)格

測量方法 電磁感應(yīng)或渦流
測量對象 磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層
測量范圍 *因探頭而異
電磁型 (EP-100):0 至 2,500 μm 或 99.0 mils
渦流型 (HP-100):0 至 1,200 μm 或 47.0 mils
測量精度 *取決于探頭
電磁型(EP-100):小于 15 μm:±0.3 μm、15 μm 或更大 1,000 μm:±2%、1,000 μm 或更大:±3%
渦流型(HP-100): 50μm以下:±1.0μm、50μm以上:±2%
解決 100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm
符合標準 電磁感應(yīng)型:JIS K5600-1-7, JIS H0401, JIS H8401, JIS H8501, / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / ASTM B 499, ASTM D 7091, ASTM E 376 渦流
型: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 / ASTM B244, ASTM D7091, ASTM E376
統(tǒng)計功能 測量次數(shù)、平均值、標準差、*大值、*小值、分塊、組
探測 一點接觸恒壓型(EP-100、HP-100)
顯示方式 數(shù)字式(LCD,*小顯示位數(shù)0.1μm)
外部輸出 USB串口
電源 AC100-240V 或電池 1.5V(AA 堿性)x 8(主機 x 4,打印機 x 4)
尺寸/質(zhì)量 126(W)×256(D)×93(H)mm, 750g
配件 鐵基(EP-100用)、鋁基(HP-100用)、標準板(10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm、近似值、各1片)、電池1.5V (AA堿性)AC適配器、電源線、探頭適配器、背帶、打印紙、表面保護膜、標準板盒、便攜包、簡易調(diào)整指南、使用說明書
選項 標準板(配件以外的厚度)、膜厚測量臺LW-990、校準(校準證書、校準證書、溯源體系圖)